Rasterkraftmikroskopie zur Untersuchung der molekularen und dynamischen Eigenschaften von Saccharosekristallen

Das Wachstum von Saccharosekristallen ist seit längerem der Gegenstand zahlreicher Untersuchungen. Die dabei verwendeten mikroskopischen Methoden erlaubten entweder nur beschränkte Auflösung oder sie waren unfähig, die Dynamik des Kristallwachstums in-situ abzubilden. Seit seiner Erfindung im Jahre 1986 wurde das Rasterkraftmikroskop (Atomic force microscope, AFM) zu einem der wichtigsten Nahfeldmikroskopie-Verfahren, weil es die genannten Beschränkungen überwinden kann. In der vorliegenden Arbeit wurde die Rasterkraftmikroskopie erstmals zur Untersuchung der 100-Ebene von Saccharosekristallen eingesetzt. Die mikroskopische Auflösungsqualität konnte bis zur Darstellung des Molekülgitters gesteigert und die Auflösung der molekularen Ebenen auf der Oberfläche eines Saccharosekristalls mit dem Rasterkraftmikroskop abgebildet werden. Die Auflösung erfolgte durch gleichmäßige Bewegung monomolekularer Stufen in Butanol, die Stufengeschwindigkeit stieg jedoch signifikant, wenn Ethanol als Lösungsmittel verwendet wurde.